一、功能

1. TEM模式和STEM模式能够对无机材料结构进行高分辨表征和分析；

2. 可对无机材料进行形貌和成分三维重构；

二、技术指标

1. TEM模式的点分辨率：优于0.25 nm (200 kV)；

2. STEM点分辨率：优于0.16 nm (200 kV)；

3. 具备Super X能谱仪系统；

4. 极靴间距不小于 5 mm ；

5. 在200kV时的结构三维重构的空间分辨率优于1 nm；

6. 在200kV时的成分三维重构的空间分辨率优于2 nm。

   
   

三、联系工程师测试

赵老师：13821187285，