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高分辨场发射透射电镜(FEI-Talos F200X)
2021-02-18 14:11  

一、功能

  1. TEM模式和STEM模式能够对无机材料结构进行高分辨表征和分析;

  2. 可对无机材料进行形貌和成分三维重构;


二、技术指标

  1. TEM模式的点分辨率:优于0.25 nm (200 kV);

  2. STEM点分辨率:优于0.16 nm (200 kV);

  3. 具备Super X能谱仪系统;

  4. 极靴间距不小于 5 mm ;

  5. 在200kV时的结构三维重构的空间分辨率优于1 nm;

  6. 在200kV时的成分三维重构的空间分辨率优于2 nm。


三、联系工程师测试

赵老师:13821187285

 

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