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聚光镜球差校正透射电镜
2016-04-30 13:46  

 

仪器中文名

聚光镜球差校正透射电镜

仪器英文名

Transmission Electron Microscope with A Probe Corrector

型号

Titan Cubed Themis G2 300

制造商

FEI

购买年份

2015                                  

仪器工程师

臧科涛,刘锐锐

Tel: 022-60216409

E-Mail: zangketao111@163.com

安放地点

12号教学楼一层

技术指标

1、具备聚光镜球差校正器。

2EELS能量分辨率:优于0.35 eV (300 kV)

3、透射电子显微(TEM)模式的点分辨率:优于0.22 nm (300 kV)

4HAADF分辨率:300 kV时0.06 nm,60 kV时优于0.136 nm

5、具备Super X能谱仪系统

6、极靴间距5.4 mm

7、具备Enfinium ER Model 977系统一套,拥有Dual EELS功能、EDS/EELS同时高速采谱功能。

8、具备分割式STEM探头。

主要功能

1STEM模式能够对无机材料结构进行亚埃尺度(<0.1 nm)的表征和分析。  

2、能利用高角度环形暗场(HAADF)、环形明场(ABF)、能谱(EDS)、电子能量损失谱(EELS)等技术直接观察无机材料中轻、重原子的位置和排布情况,并获得相应的化学环境和电子结构信息。

3、可对无机材料进行形貌和成分的三维重构。

4、可对无机材料进行差分相位衬度(DPC)分析。

5、可表征无机材料中的原子间电场分布。

6、可对无机材料进行常规的形貌、成分、衍射、高分辨结构等分析。

应用范围

用于材料、化学化工、半导体、地质学、生物学、物理学等领域

 

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