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高分辨场发射透射电镜
2016-04-29 13:45   审核人:

 

仪器中文名

高分辨场发射透射电镜

仪器英文名

High-Resolution Transmission  Electron Microscope with FEG

型号

Talos  F200X                                          

制造商

FEI                                          

购买年份

2015

仪器工程师

石晶,刘锐锐

Tel: 022-60216409

E-Mail: shijing0902@qq.com

安放地点

12号教学楼一层

技术指标

1TEM模式的点分辨率:优于0.25 nm (200 kV)

2STEM点分辨率:优于0.16 nm (200 kV)

3、具备Super X能谱仪系统

4、极靴间距不小于 5 mm

5、在200kV时的结构三维重构的空间分辨率优于1 nm

6、在200kV时的成分三维重构的空间分辨率优于2 nm

主要功能

1STEM模式和TEM模式能够对无机材料结构进行高分辨表征和分析。

2、可对无机材料进行形貌和成分三维重构。

3、可对无机材料进行差分相位衬度(DPC)分析。

4、可对无机材料进行常规的形貌、成分、衍射分析。

应用范围

用于材料、化学化工、半导体、地质学、生物学、物理学等领域

 

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